08:13 ET MPI Corporation erweitert seine Führungsposition im Bereich Hochfrequenztests mit einer neuen 250-GHz-Breitbandsondenlösung

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2025.09.11 12:14
portai
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MPI Corporation 宣佈推出一款完全整合的 250-GHz 寬帶測試解決方案,適用於 Keysight NA5305A/7A PNA-X 頻率擴展器。該新系統結合了 MPI 的 TITAN™ RF 探頭與先進的晶圓級測量專業技術,使得下一代半導體和亞太赫茲應用的精確測量成為可能。該解決方案支持單次掃描寬帶 S 參數測量,旨在滿足對亞太赫茲頻率先進測試日益增長的需求。它將在 2025 年歐洲微波周(European Microwave Week)上於荷蘭烏得勒支公開展示

該無縫集成系統結合了 TITAN™探針和 MPI 在晶圓級的專業知識,以實現對下一代半導體和亞太赫茲應用的精確測量。

, /PRNewswire/ -- MPI Corporation,全球領先的先進半導體測試解決方案提供商,今天宣佈發佈一款完全集成的 250 GHz 寬帶測試解決方案,該解決方案針對新的 Keysight NA5305A/7A PNA-X 頻率擴展器,基於其在亞太赫茲探測和晶圓級測量方面的豐富經驗。該新系統利用 MPI 的 TITAN™ RF 探針 和探針站平台,提供業界領先的 高達 250 GHz 的寬帶 S 參數表徵性能

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為 Keysight PNA-X 頻率擴展器設計的 MPI TITAN™ 250 GHz 探針

這一最新里程碑是 MPI 在高頻測量領域多年經驗的結果,包括早期解決方案擴展了 200 GHz 以上的寬帶測量極限。它還反映了與 Keysight Technologies 的深入合作,結合了行業領先的測量設備與 MPI 在晶圓級的先進解決方案,以滿足對亞太赫茲測試日益增長的需求。

“MPI 是第一家展示高達 250 GHz 的實時單掃校準和晶圓級測量的公司,包括單端和差分測量,” MPI Corporation 高級半導體測試(AST)部門總經理 Stojan Kanev 表示。“這建立在我們在 200 GHz 以上的寬帶晶圓級表徵方面的強大表現之上。新的 250 GHz 解決方案將 TITAN™探針技術與系統專業知識相結合,以確保穩定、可重複的結果、清晰的尖端可見性和安全、簡便的設置保護。它幫助工程師節省時間,保護他們的系統並實現最佳性能。”

為亞太赫茲精度而設計

250 GHz 解決方案包括 MPI 的單端探針 TITAN™ T250MAK 和差分探針 T250MSK,它們利用新的 0.5 毫米寬帶同軸接口,分別用於寬帶設備的表徵和高速差分測試。這些探針具有以下特點:

  • 極低的插入損耗 和出色的回波損耗,覆蓋整個頻率範圍
  • 獨特的尖端可見性 和機械穩定性,便於對準和保持一致的接觸和數據
  • 可伸縮的尖端保護,確保安全操作
  • 提供單端(GSG)和雙配置(GSGSG),針對不同設備類型進行了優化

這些探針完全集成在 MPI 的探針站平台系列 中,允許在晶圓級進行温控測量,用户干預最小,系統重複性最大。

Keysight 的觀點

“MPI 在高頻晶圓探測領域的持續創新在擴展我們寬帶矢量網絡分析儀平台的測量能力方面發揮了關鍵作用,” Keysight 產品經理 David Tanaka 表示。“他們的 TITAN™探針提供了我們所需的精度、可重複性和系統集成,以充分發揮我們的 250 GHz 解決方案的潛力。這種合作有助於滿足對亞太赫茲頻率先進測試日益增長的需求。”_

支持半導體創新者不斷發展的需求

隨着人工智能、5G/6G 和光學高速通信將半導體推向新的性能領域,測試和測量工具也必須同步發展。MPI 的 250 GHz 寬帶系統通過以下方式滿足這些要求:

  • 高達 250 GHz 的完全校準單掃寬帶 S 參數測量
  • 支持調製寬帶和非線性測量
  • 與領先測試儀器的集成,形成完整的測量鏈

MPI 的最新解決方案已在主要客户和合作夥伴地點的評估環境中使用,在 MPI 位於台灣和美國的設施中提供演示系統。計劃在 2025 年烏特勒支的歐洲微波周(EuMW) 上進行公開首秀,屆時將展示實時設置。

關於 MPI Corporation 的信息

成立於 1995 年的 MPI Corporation 總部位於台灣新竹,是全球領先的高端設備和晶圓級表徵的半導體測試解決方案提供商。公司的 高級半導體測試(AST) 部門進行 RF/mmWave 測試、高性能設備表徵、硅光子學(SiPh)和晶圓級可靠性。憑藉 TITAN™ RF 探針系列WaferWallet®自動化TS/IFE 平台系列 等創新,MPI 為整個半導體測試生態系統提供精度、可靠性和性能。

更多信息請訪問:www.mpi-corporation.com

照片 – https://mma.prnewswire.com/media/2769602/T250MS_KAPPA_Dual_Probe_with_PMP60_TS2000_IFE__Keysight.jpg